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便攜式電阻率/方阻測(cè)試儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

便攜式電阻率/方阻測(cè)試儀是用來(lái)測(cè)量硅晶塊、晶片的電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。

產(chǎn)品型號(hào)：DP-KDY-1A

更新時(shí)間：2021-12-31

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

訪問(wèn)量：1049

產(chǎn)品咨詢(xún) 15313602957

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產(chǎn)品分類(lèi)

專(zhuān)用儀器儀表

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品牌	其他品牌	產(chǎn)地類(lèi)別	國(guó)產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),農(nóng)業(yè),建材	測(cè)量范圍	可測(cè)方塊電阻：?0.1～1999Ω/口

便攜式電阻率/方阻測(cè)試儀/便攜式電阻測(cè)定儀/方阻儀型號(hào)：DP-KDY-1A

便攜式電阻率/方阻測(cè)試儀是用來(lái)測(cè)量硅晶塊、晶片的電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。

本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的及家標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)。

它主要由電器測(cè)量份（主機(jī)）及四探針頭組成，需要時(shí)可加配測(cè)試架。

為減小體積，本儀器用同塊數(shù)字表測(cè)量電流及電阻率。樣品測(cè)試電流由度的恒流源提供，隨時(shí)可行校準(zhǔn)，以確保電阻率測(cè)量的準(zhǔn)確度。因此本儀器不僅可以用來(lái)分選材料也可以用來(lái)作產(chǎn)品檢測(cè)。對(duì)1～100Ω·cm標(biāo)準(zhǔn)樣片的測(cè)量誤差不過(guò)±3%，在此范圍內(nèi)達(dá)到家標(biāo)準(zhǔn).

（1）測(cè)量范圍：

可測(cè)方塊電阻： 0.1～1999Ω/_口

當(dāng)被測(cè)材料電阻率≥200Ω·cm數(shù)字表顯示0.00。

（2）恒流源：

輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔

1mA量程：0.1～1mA 連續(xù)可調(diào)

10mA量程：1mA ～10mA連續(xù)可調(diào)

恒流度：各檔均優(yōu)于±0.1%

（1）直流數(shù)字電壓表

測(cè)量范圍：0～199.9mv

靈敏度：100μv

準(zhǔn)確度：0.2%（±2個(gè)字）

（2）供電電源：

AC：220V ±10% 50/60HZ 率8W

（3）使用環(huán)境：相對(duì)濕度≤80%

（4）重量、體積

重量：2.2 公斤

體積：寬210×100×深240（mm）

注：頁(yè)面價(jià)格只是配件價(jià)格或產(chǎn)品庫(kù)存數(shù)量，并非產(chǎn)品價(jià)格具體價(jià)格面議

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便攜式電阻率/方阻測(cè)試儀是用來(lái)測(cè)量硅晶塊、晶片的電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。

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